¿Qué es el microscopio electrónico de barrido?
El microscopio electrónico de barrido (SEM, por Scanning Electron Microscope) escanea la superficie de la muestra con un haz de electrones enfocado. Los electrones secundarios emitidos se detectan y se traducen en una imagen tridimensional con detalles de hasta 1 nm.
Funcionamiento
Un haz de electrones acelerado se enfoca en un punto de aproximadamente 1 nm de diámetro y barre la superficie de la muestra en un patrón de raster (como una televisión antigua). Cada punto que el haz toca emite electrones secundarios que se detectan, y cada lectura se convierte en un píxel de la imagen final. La muestra se cubre previamente con una capa conductora (oro o carbono) si no es metálica.
Aplicaciones típicas
- Análisis de fallos en microelectrónica
- Estudio de superficies de materiales
- Entomología (insectos en altísimo detalle)
- Paleontología
- Investigación forense
Ventajas y limitaciones
| Ventajas | Limitaciones |
|---|---|
| Imágenes 3D con gran profundidad de campo. Resolución hasta 1 nm. Muestras relativamente grandes (varios cm). | Muestra en vacío. Requiere recubrimiento conductor. Muestras vivas no son posibles. |
Preguntas frecuentes
¿Qué significa SEM?
Scanning Electron Microscope, microscopio electrónico de barrido.
¿Cuánto cuesta un SEM?
Equipos básicos para enseñanza: USD $50,000–150,000. Equipos de investigación: USD $500,000–2,000,000.
¿Qué partes del microscopio electrónico de barrido son críticas?
El cañón de electrones, las lentes electromagnéticas, las bobinas de barrido, los detectores de electrones secundarios y retrodispersados, y la cámara de vacío.